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干涉仪是一种科学仪器，主要用于测量和研究光的干涉现象，广泛应用于物理学、光学、材料科学等领域，其主要用途包括但不限于以下几个方面：
1、科学研究：干涉仪可以用于研究光学现象、物质结构等科学问题。
2、精密测量：干涉仪具有高精度的测量能力，可以用于测量光学元件的表面形状、光学系统的性能等。
3、质量控制：在生产制造领域，干涉仪可以用于检测产品的质量和性能。
SIOS干涉仪是干涉仪的一种类型，具有多种功能和特点，它可以用于测量光学元件的面形误差，包括波前探测、表面粗糙度测量等，SIOS干涉仪还可以用于光学元件的微观检测，如划伤、杂质等缺陷的检测，由于其高精度的测量能力，SIOS干涉仪在光学制造和光学检测领域具有广泛的应用。
干涉仪是一种重要的科学仪器，其用途广泛，而SIOS干涉仪是干涉仪的一种类型，具有特定的功能和特点，在光学制造和检测领域有广泛的应用。
